以超分辨率比例绘制局部质量图
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2024-01-23 16:46:42
摘要 超分辨率(SR)荧光显微镜通过使用荧光探针和特定的激发和发射程序，超越了曾经是障碍的分辨率衍射极限(200~300 nm)。大多数 SR 技术严重...
超分辨率(SR)荧光显微镜通过使用荧光探针和特定的激发和发射程序，超越了曾经是障碍的分辨率衍射极限(200~300 nm)。大多数 SR 技术严重依赖图像计算和处理来检索 SR 信息。然而，荧光团光物理学、样品的化学环境和光学设置情况等因素可能会导致原始图像出现噪声和失真，从而可能影响最终 SR 图像的质量。这使得 SR 显微镜开发人员和用户拥有可靠的方法来量化重建质量至关重要。由于超分辨率成像的分辨率不断提高，因此有必要进行彻底的评估，但当视场内的局部分辨率发生变化时，现有工具往往会出现不足。
在《光：科学与应用》 最近发表的一项研究中，一组科学家引入了一种称为滚动傅立叶环相关性 (rFRC) 的新方法。该方法有利于直接在超分辨率 (SR) 域中表示分辨率异质性，从而能够以无与伦比的 SR 比例进行映射，并轻松地将分辨率图与 SR 内容相关联。此外，该团队还对分辨率比例误差图(RSM)进行了改进，从而实现了更准确的系统误差估计。它与 rFRC 结合使用，创建了一种称为 PANEL(错误位置像素级分析)的组合技术，该技术专注于从 SR 图像中精确定位低可靠性区域。
科学家们成功地将PANEL应用于多种成像方法，包括单分子定位显微镜(SMLM)、超分辨率径向波动(SRRF)、结构照明显微镜(SIM)和反卷积方法，验证了其定量图谱的有效性和稳定性。PANEL 可用于改善 SR 图像。例如，它已被有效地用于融合通过各种算法重建的 SMLM 图像，提供优质的 SR 图像。
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