作者介绍
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透射电子显微镜系统等
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）通过电子束穿透样品后形成的图像来分析样品内部的微观结构。它的工作原理基于
2025年06月16日 06:10:27
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透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）通过电子束穿透样品后形成的图像来分析样品内部的微观结构。它的工作原理基于
